Abstract:
Исследованы треки, наноструктуры, возникающие на поверхности кристаллов фторида лития под действием ионного облучения (N, Kr, Xe) и сильноточных электронных импульсов с использованием сканирующего электронного микроскопа JSM-7500F и атомно-силового микроскопа. Из гистограмм распределения поверхностных бугорков (hillock) оценивается их средняя высота.
Description:
Исследованы треки, наноструктуры, возникающие на поверхности кристаллов фторида лития под действием ионного облучения (N, Kr, Xe) и сильноточных электронных импульсов с использованием сканирующего электронного микроскопа JSM-7500F и атомно-силового микроскопа. Из гистограмм распределения поверхностных бугорков (hillock) оценивается их средняя высота.
